THIN-GEM

製品画像を拡大

製品コード BBTX-098

THIN-GEMは、中性子を利用した物質の二次元画像とTOF(Time-Of-Flight)情報を測定できる中性子検出器です。読出基板単体での取り扱いもございます。

カタログ・資料一覧

飛来した中性子を、カソード板の表面にコーティングした10B層(ボロン10同位体)で荷電粒子に変換します。これにより発生した電子をGEMで数万倍に増幅します。この信号を読出基板で座標の判定とTOFの測定を行い、SiTCPを用いてPCに転送します。この読出基板は256ch MPGD汎用読出基板[BBTX-043]としても取り扱っています。

※仕様は予告なく変更されます。
※本基板は高エネルギー加速器研究機構のライセンス供与を受けて製作されています。
※本製品の保証期間はご購入後1年間です。